品牌 | 其他品牌 | 貨號 | 123 |
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規格 | CSG-14-50-GH-J6 | 供貨周期 | 一個(gè)月以上 |
主要用途 | 機械設備 | 應用領(lǐng)域 | 電子 |
名稱(chēng) | 哈默納科 | 用途 | 半導體、機器人、機械設備 |
材質(zhì) | 鋼 | 是否進(jìn)口 | 是 |
3)考慮選用標準化、系列化、通用化的計量器具,以便于安裝、使用、維修和更換。
4)所選測量器具應適應被測工件的結構、哈默納科基面測量諧波CSG-14-50-GH-J6材料的特殊性。如被測件的大小、形狀、重量、材料、表面粗糙度等。
4.測量基準面的選擇
測量基準的選擇應遵守基準統一原則,哈默納科基面測量諧波CSG-14-50-GH-J6并由測量的目的而定。測量基準的選擇有以下幾種情況:
C1)在工序檢測時(shí),應以工藝基面為測量基準面。通常以工件裝卡在機床夾具上的定位基面為測量基準。以正確評定和分析加工質(zhì)量。
C2)在產(chǎn)品終結檢測時(shí),應以裝配基面為測量基準,以保證與設計和使用要求一致。
C3>當由于各種原因,使工藝基面與設計基面不一致,或工藝基面受到破壞,或由于量?jì)x測量條件的限制等,無(wú)法滿(mǎn)足上述兩條要求時(shí),可選擇某一輔助基面為測量基面。選擇輔助測量基面的一般原則為:
1)以精度較高的面作為輔助基面,也可事先加工一個(gè)面作為輔助測量基面。
2)輔助測量基面應保證測量的穩定性。
3)在被測參數較多的情況下,選擇與各參數關(guān)系密切、便于控制各參數的某一面作為測量的輔助基面。